IC测试原理解析(第一部分)

制造阶段的测试包括:

通常的工艺种类包括:

通常的测试项目种类:

第二节 直流参数测试

直流测试是基于欧姆定律的用来确定器件电参数的稳态测试方法。比如，漏电流测试就是在输入管脚施加电压，这使输入管脚与电源或地之间的电阻上有电流通过，然后测量其该管脚电流的测试。输出驱动电流测试就是在输出管脚上施加一定电流，然后测量该管脚与地或电源之间的电压差。

通常的DC测试包括 :

1.所有管脚设为0V，

2.待测管脚上施加正向偏置电流”I”，

3.测量由”I”引起的电压，

4.如果该电压小于0.1V，说明管脚短路，

5.如果电压大于1.0V，说明该管脚开路，

6.如果电压在0.1V和1.0V之间，说明该管脚正常连接。

第三节 交流参数测试

交流参数测试测量器件晶体管转换状态时的时序关系。交流测试的目的是保证器件在正确的时间发生状态转换。输入端输入指定的输入边沿，特定时间后在输出端检测预期的状态转换。

常用的交流测试有传输延迟测试，建立和保持时间测试，以及频率测试等。

传输延迟测试是指在输入端产生一个状态（边沿）转换和导致相应的输出端的状态（边沿）转换之间的延迟时间。该时间从输入端的某一特定电压开始到输出端的某一特定电压结束。 一些更严格的时序测试还会包括以下的这些项目：

三态转换时间测试-

TLZ，THZ: 从输出使能关闭到输出三态完成的转换时间。

TZL，TZH: 从输出使能开始到输出有效数据的转换时间。

存储器读取时间－

从内存单元读取数据所需的时间。测试读取时间的步骤一般如下所示：

1.往单元A写入数据’0’，

2.往单元B写入数据’1’，

3.保持READ为使能状态并读取单元A的值，

4.地址转换到单元B，

5.转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间。

写入恢复时间 –在写操作之后的到能读取某一内存单元所必须等待的时间。

暂停时间- 内存单元所能保持它们状态的时间，本质上就是测量内存数据的保持时间。

刷新时间 – 刷新内存的最大允许时间

建立时间 － 输入数据转换必须提前锁定输入时钟的时间 。

保持时间 － 在锁定输入时钟之后输入数据必须保持的时间。

频率－ 通过反复运行功能测试，同时改变测试周期，来测试器件运行的速度。周期和频率通常通过二进制搜索的办法来进行变化。频率测试的目的是找到器件所能运行的最快速度。

上面讨论了数字集成电路测试的一些基本目的和原理，同时也定义了测试上的一些关键术语，在接下来的章节里，我们将讨论怎么把这些基本原理应用到实际的IC测试中去。